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ZIVID全彩結(jié)構(gòu)光3D相機(jī)
近紅外光譜分析和化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件
低噪聲間接檢測 X 射線相機(jī)
高性能低噪聲X射線相機(jī)
GOM ATOS Q 三維掃描儀
GOM Scan1小型三維掃描儀
高性價(jià)比光場相機(jī)
延遲線探測器(Delayline Detectors)
非接觸式二維光譜顏色測量系統(tǒng)(成像色彩分析系統(tǒng))
氣體光譜在線檢測技術(shù)的要點(diǎn)為了能夠識(shí)別特定的分子,許多光學(xué)技術(shù)已經(jīng)基于光譜學(xué)發(fā)展起來,如長路徑吸收光譜,腔增強(qiáng)光譜,腔衰蕩光譜,光聲光譜等等。光譜學(xué)提供的主要優(yōu)勢是可以使用它們獨(dú)特的指紋來識(shí)別特定的分子。當(dāng)被分析的氣體中同時(shí)存在幾種分子時(shí),這是有益的。為此目的開發(fā)的設(shè)備可以基于高靈敏度,尋找特定氣體的百萬分之一體積(ppmv),十億分之一體積(ppbv)甚至萬億分之一體積(pptv)濃度,或者基于寬帶技術(shù),同時(shí)尋找許多物種。這些光學(xué)技術(shù)是非侵入性的,在大多數(shù)情況下只需要很少的預(yù)處理。大多數(shù)氣體光譜檢測裝置都是基于比爾-朗伯定律所描述的分子種類的吸收。因此,為了優(yōu)化器件的靈敏度,必須仔細(xì)選擇光源 ...
-100%在線檢測-? 立即從產(chǎn)品中獲取更多的質(zhì)量信息為什么FX10優(yōu)于點(diǎn)光譜儀和RGB相機(jī)?FX10是一種高速成像光譜儀當(dāng)前大多數(shù)的顯示面板和光源是基于LED背光。 它們產(chǎn)生不一致的光譜,因此只有通過測量實(shí)際光譜才能準(zhǔn)確地測量他們的顏色。 傳統(tǒng)的檢測方法是點(diǎn)分光光度計(jì),在生產(chǎn)中,由于檢查時(shí)間有限,將檢查限制在顯示表面的幾個(gè)離散點(diǎn)上。目前成像光度計(jì)的挑戰(zhàn)是,它們是基于RGB三色相機(jī)。 它們的色域和測量精度有限,因?yàn)閷拵GB濾波器響應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)顏色坐標(biāo)XYZ不匹配。 為了快速、準(zhǔn)確地檢查整個(gè)表面需要一種先進(jìn)的成像解決方案。SPECIM FX10是市場上第一臺(tái)能夠快速測量整個(gè)顯示器的光譜輻射圖像的相 ...
而,由于X射線檢測是依賴于密度的變化,因此它既不能表征營養(yǎng)特性,也不能檢測密度與產(chǎn)品相似的污染物。作為一個(gè)說明性的例子,即位于肉末內(nèi)部的的大骨頭,也可以通過X射線正確識(shí)別出來。相反的,高光譜相機(jī)卻無法識(shí)別它。然而,脂肪和蛋白質(zhì)等成分可以用高光譜相機(jī)來標(biāo)定,而X射線卻不能提供這項(xiàng)任務(wù)的相關(guān)數(shù)據(jù)。不同類型傳感器之間的數(shù)據(jù)融合是保證質(zhì)量控制穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。下表列出了這兩種技術(shù)在食品質(zhì)量方面的優(yōu)缺點(diǎn)。 X射線 高光譜成像污染物表面可見 *表面看不見 *營養(yǎng)特性脂肪e、 g.糖、水分、蛋白質(zhì)顏色*只有當(dāng)污染物的密度與產(chǎn)品不同時(shí)您可以通過 ...
生物生物膜在線檢測的魯棒多參數(shù)傳感器系統(tǒng)-初步檢驗(yàn)生物膜的形成會(huì)造成嚴(yán)重的健康危害,主要是由于病原體的失控釋放。這可能會(huì)在工業(yè)設(shè)施中產(chǎn)生幾個(gè)問題,例如在食品工業(yè)中。本研究的目的是開發(fā)和實(shí)現(xiàn)一個(gè)多參數(shù)傳感器系統(tǒng),以監(jiān)測生物膜的形成在實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)裝置。為了Z小化交叉靈敏度或干擾,該裝置基于不同測量原理的組合。微生物是在實(shí)驗(yàn)室規(guī)模的反應(yīng)器中培養(yǎng)的。之后,將研究生物膜的形成與每個(gè)原型的多參數(shù)傳感器,然后在工業(yè)規(guī)模上進(jìn)行Z終測試。https://ieeexplore.ieee.org/document/68276026. 基于96孔多電極陣列的新型障礙監(jiān)測平臺(tái)用于二維和三維腦腫瘤培養(yǎng)的藥物療效比較分析惡 ...
細(xì)的分析或在線檢測,可以對這些特性進(jìn)行定量校準(zhǔn),比如面包中的水分。未來潛力巨大高光譜成像技術(shù)正在興起,許多公司正在評估其在在線生產(chǎn)中的應(yīng)用。隨著高光譜成像技術(shù)越來越成熟,越來越為人所知,越來越多的用戶可以使用高光譜成像技術(shù)。像Campden BRI這樣的公司在向更廣泛的受眾提供有關(guān)這項(xiàng)技術(shù)的能力的信息,以及提供如何應(yīng)用它的方法方面發(fā)揮著重要作用。Campden BRI還可以為食品制造商進(jìn)行初步試驗(yàn),使他們能夠評估該方法的適用性。您可以通過我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
使用無線電天線檢測無線電波來工作;然而,這種信號通常相對較弱,因此需要一個(gè)RF放大器來增強(qiáng)信號,以便進(jìn)一步處理。由于天線將捕捉所有可能的頻率,因此需要一個(gè)調(diào)諧器來找到所需的特定頻率。圖5 LC電路原理圖示例2.2 模擬解調(diào)模擬解調(diào)調(diào)諧器通常由一個(gè)LC(電感電容)電路組成,如圖5所示。根據(jù)所用的電感和電容,電路將在特定頻率下諧振。高于和低于該諧振頻率的所有其他頻率將被阻擋。消息信號可以被整流為僅給出DC信號,并通過二極管和旁路電容器從載波中解調(diào)。該信息信號然后可以被放大并發(fā)送到揚(yáng)聲器、耳機(jī)等。2.3 鎖定放大器鎖定放大器是一種功能強(qiáng)大的器件,可以從噪聲背景中分離出調(diào)制信號,在我們的情況下,是從一 ...
文介紹的x射線檢測法。X射線無損測試是工業(yè)無損檢測的主要方法之一,是保證焊接質(zhì)量的重要技術(shù),其檢測結(jié)果己作為焊縫缺陷分析和質(zhì)量評定的重要判定依據(jù),應(yīng)用十分廣泛。膠片照相法是早期X射線無損測試中常用的方法。X射線膠片的成像質(zhì)量較高,能夠準(zhǔn)確地提供焊縫中缺陷真實(shí)信息,但是,該方法具有操作過程復(fù)雜、運(yùn)行成本高、結(jié)果不易存放且查詢攜帶不方便等缺點(diǎn)。由于電子技術(shù)的飛速發(fā)展,一種新型的X射線無損檢測方法"X射線工業(yè)電視"已應(yīng)運(yùn)而生,并開始應(yīng)用到焊縫質(zhì)量的無損檢測當(dāng)中。X射線工業(yè)電視己經(jīng)發(fā)展到由工業(yè)線陣X射線相機(jī)取代原始X射線無損測試中的膠片,并用監(jiān)視器<工業(yè)電視>實(shí)時(shí)顯示測 ...
強(qiáng)橢偏儀的在線檢測和控制功能。橢偏成像技術(shù)保持了傳統(tǒng)橢偏測量術(shù)非接觸式測量、對樣品無損害的優(yōu)點(diǎn),并在測量上彌補(bǔ)了傳統(tǒng)橢偏測量技術(shù)的不足,具有以下優(yōu)點(diǎn):測量精度高,不僅可達(dá)到原子層量級的縱向靈敏度,還具有可達(dá)光學(xué)衍射極限的橫向分辨能力,可以對精細(xì)橫向微結(jié)構(gòu)的納米層狀樣品進(jìn)行全表面測量;非苛刻性,對待測樣品限制少,可以實(shí)現(xiàn)多樣品測量;結(jié)果直觀,通過CCD成像,可以直觀地看到樣品形貌,排除測量中的偽信號,從而使測量更加準(zhǔn)確?,F(xiàn)在的橢偏成像技術(shù)在波長范圍、測量面積、精確度、測量速度等方面得到很大程度的改進(jìn),可以獲得樣品包含整個(gè)視場的大面積區(qū)域內(nèi)的測量信息,實(shí)時(shí)觀測樣品的狀態(tài),實(shí)現(xiàn)大視場寬光譜測量,在納 ...
更新一些X射線檢測的算法,以及更多的應(yīng)用介紹,請持續(xù)關(guān)注我們!更多詳情請聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電:上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測量設(shè)備、光學(xué)元件等,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝,培訓(xùn),硬件開發(fā),軟件開發(fā),系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.jiazhangclub.com了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來電咨詢4006-888-532。 ...
門控(TG)拉曼的發(fā)展歷史1972年,Perry P. Yaney首次應(yīng)用門控拉曼原理從實(shí)驗(yàn)和理論上證明了熒光干涉還原的概念。另一位先驅(qū)是Richard Van Duyne,他也是表面增強(qiáng)拉曼效應(yīng)的發(fā)現(xiàn)者之一。1974年,Van Duyne研究小組首次通過實(shí)驗(yàn)證明,使用羅丹明6g染料摻雜苯樣品可以抑制熒光,同時(shí)通過光電倍增管(PMT)和脈沖氬離子激光源在488nm激發(fā)下的組合來提高信噪比。1976年,Yaney使用與Van Duyne等人類似的裝置,但使用不同的脈沖激發(fā)源(ps脈沖Nd:YAG, 532 nm摻釹釔鋁石榴石激光器),發(fā)現(xiàn)TG拉曼與連續(xù)拉曼相比,在較短的激光脈沖寬度(約200 n ...
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