可以調(diào)整相機(jī)曝光、白平衡參數(shù)，控制屏幕自動(dòng)旋轉(zhuǎn)和調(diào)整環(huán)境照明等。接近傳感器用于檢測(cè)設(shè)備與物體之間的距離，可以自動(dòng)關(guān)閉屏幕和調(diào)節(jié)聽筒音量等，如當(dāng)用戶將手機(jī)靠近耳朵時(shí)，接近傳感器會(huì)檢測(cè)到物體的距離，并自動(dòng)調(diào)節(jié)屏幕亮度或自動(dòng)關(guān)閉屏幕，以節(jié)省電池電量，并避免過亮的屏幕對(duì)眼睛的刺激或在通話時(shí)誤觸屏幕。閃爍傳感器是一種可以檢測(cè)光源閃爍頻率的傳感器，用于自動(dòng)調(diào)整攝像頭的曝光時(shí)間和白平衡，從而避免了拍攝出來的照片和視頻出現(xiàn)閃爍或條紋等問題。提高低光條件下的拍攝效果，從而提供更加清晰和穩(wěn)定的照片和視頻。通常情況下，各類傳感器在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下需要在各類光源和強(qiáng)度下進(jìn)行調(diào)試和測(cè)試，確保其正常穩(wěn)定的工作。但是，現(xiàn)有的對(duì) ...

00 系列未曝光光刻膠的柯西系數(shù)。各個(gè)光刻膠可能具有不同的溶劑濃度和烘烤條件——這將需要調(diào)整柯西系數(shù)。CauchyK 是柯西的擴(kuò)展，它將色散關(guān)系應(yīng)用于折射率(n) 和消光系數(shù)(k)。k 目前為0 – 我們保留它以供將來與未烘烤的光刻膠一起使用，其中吸收明顯存在。2.測(cè)量完全烘烤的光刻膠硅片上的 AZ1580 光刻膠：完全軟烘烤。模型與測(cè)量數(shù)據(jù)的擬合顯示出非常好的擬合相同測(cè)量的厚膜 (FFT) 數(shù)據(jù)分析– 與曲線擬合結(jié)果完美匹配（厚度差異< 0.2 nm）3.測(cè)量部分烘烤的光刻膠硅晶圓上的 AZ1580 光刻膠：部分烘烤。模型與數(shù)據(jù)的擬合度存在顯著差異。表明需要調(diào)整光學(xué)常數(shù)測(cè)量光刻膠的厚度 ...

R）進(jìn)行全息曝光和熱顯影技術(shù)，在玻璃內(nèi)部形成折射率的周期性調(diào)制，從而形成體布拉格光柵。 這種光柵zui初主要用于激光器波長(zhǎng)鎖定、線寬壓窄，超快激光脈沖展寬和壓縮，超低波數(shù)拉曼測(cè)量等領(lǐng)域。隨著工藝技術(shù)的更新，體布拉格光柵（VBG）在窄帶濾波和快速光振幅調(diào)制方面得到更廣泛的應(yīng)用，如下是產(chǎn)品的介紹：1、超窄帶濾光片超窄濾光片由于其優(yōu)異的性能，在量子光學(xué)領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。針對(duì)于客戶實(shí)現(xiàn)超窄帶濾波及純化的應(yīng)用要求，我們開發(fā)了10GHz，25GHz，50GHz帶寬（FWHM, Full Width at Half Maximum）這3種規(guī)格的濾光片產(chǎn)品向客戶提供。超窄帶濾光片主要特點(diǎn)如下：常見波長(zhǎng)：78 ...

Hz 的長(zhǎng)曝光照片，捕捉到了掃描圖案的照片（圖 6）。結(jié)論采集掃描模式是建立長(zhǎng)距離自由空間激光鏈路（如 GRACE Follow-On 中的鏈路）的一個(gè)重要方面。需要對(duì)整個(gè)詢問區(qū)域進(jìn)行恒定密度掃描，這通常會(huì)導(dǎo)致使用任意波形模式。我們?cè)?MATLAB 中創(chuàng)建了一個(gè)恒定密度螺旋掃描模式，然后通過 SD 卡將其導(dǎo)入 Moku:Lab 任意波形發(fā)生器。然后我們用它來驅(qū)動(dòng)一個(gè)快速轉(zhuǎn)向鏡，該鏡使用螺旋掃描模式將可見的紅色激光轉(zhuǎn)向投影儀屏幕。這證明了 Moku:Lab 設(shè)備能夠產(chǎn)生任意復(fù)雜波形，可用于自由空間激光鏈路的采集掃描模式。了解更多 Moku 詳情，請(qǐng)?jiān)L問上海昊量光電的官方網(wǎng)頁：https://w ...

光刻膠測(cè)量概述MProbe? Vis MSP用于小點(diǎn)測(cè)量。在本文中，我們將討論P(yáng)R的幾種不同應(yīng)用:1.玻璃基板上的薄PR(主CD/DVD應(yīng)用)2.藍(lán)寶石晶圓上薄PMMA3.硅上PR(微斑)4.硅片上PR(毯式硅片)5.銅板PR(印制板)一、玻璃基板上的薄PR此應(yīng)用程序用于主CD/DVD和其他重新編碼應(yīng)用程序。用MicropositS1800系列(Shipley)自旋涂覆玻璃盤。PR的柯西系數(shù)由廠家提供。而PR在隨厚度直接測(cè)量的500nm~600nm范圍內(nèi)吸收較小。PR的光學(xué)常數(shù)采用CauchyK模型表示，其中僅測(cè)量吸收(k)部分，而n系數(shù)是固定的。圖1 PR的光學(xué)常數(shù)，k為實(shí)測(cè)，n由廠家提供。 ...

下快速躍遷的曝光;(3)更少的復(fù)雜性，從而降低了制造成本;(4)改進(jìn)系統(tǒng)集成的能力，從而減少了空間要求。(5)更低的功耗/改進(jìn)的功耗和(6)無冷卻要求，由于探測(cè)器的短占空比和低暗電流。與TG拉曼應(yīng)用相比，SPAD探測(cè)器目前的一個(gè)缺點(diǎn)是，與ccd相比，在探測(cè)器陣列中匹配相當(dāng)數(shù)量的像素是一個(gè)挑戰(zhàn)。這可能會(huì)對(duì)光譜分辨率產(chǎn)生影響，盡管有方法可以改善這一點(diǎn)，例如微透鏡陣列和亞像素采集的實(shí)現(xiàn)。目前的商用TG拉曼光譜儀提供的光譜分辨率約為5 (cm?1)波數(shù)，而一些基于CCD的系統(tǒng)可以達(dá)到1 (cm?1)以下。然而，大多數(shù)應(yīng)用不需要子波數(shù)分辨率。5. TG拉曼spad探測(cè)器發(fā)展綜述Blacksberg等人和 ...

0cd/m2曝光時(shí)間0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s0.1ms-300s（?戶可以設(shè)置zui?測(cè)量時(shí)間）亮度精度±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%±3%色度計(jì)精度x,y±0.003x,y±0.003x,y±0.003x,y ±0.003x,y ±0.003x,y ±0.003///亮度重復(fù)性±0.05%±0.05%±0.05%±0.5%±0.5%±0.5%±0.02%±0.02%±0.02%?度重復(fù)性±0.0001±0.0001±0.0001±0.000 ...

，需要較長(zhǎng)的曝光時(shí)間才能獲得足夠清晰的MOKE圖像。因此，遲滯的MOKE圖像是在面外場(chǎng)的逐步變化中拍攝的，而不是連續(xù)的場(chǎng)掃描。對(duì)于FORC掃描拍攝的每張圖像，在拍攝MOKE圖像之前，從正飽和場(chǎng)到反轉(zhuǎn)場(chǎng)進(jìn)行全序列磁場(chǎng)掃描，直到所需的zui終場(chǎng)。采用比例-積分-導(dǎo)數(shù)（PID）控制的熱電冷卻器進(jìn)行溫度調(diào)制。熱電冷卻器直接固定在樣品級(jí)的下方，熱敏電阻連接到冷卻器上。Arduino Nano微控制器通過預(yù)先校準(zhǔn)的熱敏電阻電阻來測(cè)量溫度，通過PID計(jì)算來控制熱電冷卻器的輸出，并在環(huán)境波動(dòng)的情況下保持所需的溫度。所有測(cè)量都保持小于0.1°C的波動(dòng)。通過對(duì)樣品器件電阻的測(cè)量，驗(yàn)證了熱電冷卻器通過臺(tái)階到樣品器件 ...

域的PMMA曝光。之后對(duì)薄膜進(jìn)行顯影，去除曝光的PMMA，從而在薄膜上留下圖案。這些圖案的特征尺寸可小至100納米。掃描電子顯微鏡本身的Max照相放大倍數(shù)為300,000倍，能夠看到小至3納米的特征。振動(dòng)挑戰(zhàn)掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡系統(tǒng)極易受到來自環(huán)境的振動(dòng)影響。隨著分辨率不斷從微米級(jí)跨越到納米級(jí)，像這樣的顯微鏡工具對(duì)更精確的隔振需求變得愈發(fā)關(guān)鍵。當(dāng)測(cè)量幾?；驇准{米的位移時(shí)，必須為儀器建立一個(gè)絕對(duì)穩(wěn)定的表面。振動(dòng)可以通過地板傳遞到原子力顯微鏡，不僅來自建筑物內(nèi)的泵和電機(jī)，還來自電梯、暖通空調(diào)（HVAC）系統(tǒng)、外部車輛交通的移動(dòng)，以及為顯微鏡提供支撐的輔助設(shè)備。垂直和水平方向的振動(dòng)都會(huì)對(duì)所觀 ...

減片以及控制曝光時(shí)間等方式調(diào)節(jié)入射激光能量。電腦上的軟件控制CCD完成光束采集，并完成信號(hào)處理，因?yàn)椴杉男盘?hào)存在噪聲，所以在此之前需要先采集背景光信息并且在計(jì)算光束寬度之前將其扣除。常見的光束計(jì)算方法有刀口法、狹縫法和4σ等，本文所使用的方法為4σ。ISO中采用4σ定義光束寬度，該方法基于光軸z處光束截面內(nèi)光強(qiáng)分布的二階矩來定義主軸方向的光束寬度dx和dy。其中式中σx和σy是光束光強(qiáng)分布E(x,y)主軸方向的二階矩。式中，是光強(qiáng)分布E(x,y)的一階矩，物理意義為光束橫截面內(nèi)光強(qiáng)分布的質(zhì)心坐標(biāo)，即在理想高斯光斑分布的情況下，使用4σ計(jì)算得到的光束寬度和光強(qiáng)下降到處的寬度是一致的。但是在實(shí)際 ...