折射率引導(dǎo)型光子晶體光纖的結(jié)構(gòu)類型與機(jī)理前言：光子晶體光纖（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。與普通光纖是由包層與纖芯兩種介質(zhì)組成向類比，光子晶體光纖通常是由單一介質(zhì)構(gòu)成的，其包層周期性地規(guī)則對(duì)稱分布著具有波長量級(jí)的空氣孔陣列，包層外為涂覆層。因此，也可以稱其為“多孔光纖”（HoleyFiber）或“微結(jié)構(gòu)光纖”（MicrostructureFiber）。光纖的中心，即被空氣孔陣列包層包圍的纖芯部位，可以視為周期結(jié)構(gòu)陣列中存在的“缺陷”。光子晶體光纖的微結(jié)構(gòu)特性主要由三個(gè)參量決定，即空氣孔的直徑d，相鄰兩孔之間的距離Δ，以及纖芯的直徑D。光子晶體光纖的這種微結(jié)構(gòu)特定 ...

軸經(jīng)歷不同的折射率。雙折射也可以引入外部或殘余應(yīng)力在大塊材料。在非常短的波長(即157 nm)， CaF2顯示應(yīng)力誘導(dǎo)雙折射和更強(qiáng)的內(nèi)稟雙折射(也稱為空間色散雙折射)。CaF2中的雙折射為高性能的印刷應(yīng)用帶來了性能問題。雙折射的傳統(tǒng)測(cè)量方法是讓光束穿過放置在交叉偏振器之間的樣品。光強(qiáng)通常在樣品旋轉(zhuǎn)360°時(shí)檢測(cè)。雙折射的大小與較大信號(hào)(快軸與偏振器軸為45°)和較小信號(hào)(快軸與偏振器軸平行或垂直)的差值有關(guān)。該方法有測(cè)量時(shí)間長、精度低等缺點(diǎn)。每個(gè)采樣點(diǎn)都要旋轉(zhuǎn)一個(gè)樣品，這使得雙折射映射不切實(shí)際光彈性調(diào)制器(PEM)技術(shù)為交叉偏振器技術(shù)提供了更好的選擇。PEM在高頻率(名義上為50千赫)調(diào)制入射 ...

顯然，材料的折射率n可以通過測(cè)量反射率R來決定。實(shí)際情況下，折射率n隨波長變化（就是說，材料會(huì)發(fā)生色散）。但是因?yàn)橐呀?jīng)知道很多波長的反射率，在這些波長下的折射率n就可以推算出來，如上面的公式所示。多層界面現(xiàn)在考慮涂在材料上的一層薄膜。這種情形下，薄膜的頂部和底部都會(huì)反射光?？偡瓷涔饬渴沁@兩部分反射光的疊加。因?yàn)楣獾牟▌?dòng)性，這兩部分反射光可能干涉相長（強(qiáng)度相加）或干涉相消（強(qiáng)度相減)，這取決于它們的相位關(guān)系。而相位關(guān)系取決于這兩部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)，和光波長決定的。當(dāng)薄膜內(nèi)光程等于光波長的整數(shù)倍時(shí)，兩組反射光相位相同，因而干涉相長。當(dāng)光重直人射到透明薄膜時(shí)就是這種情 ...

膜厚測(cè)量原理（三）-通過光譜反射確定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取決于薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)，和界面粗糙度等其它特性。在多于一個(gè)界面的情況下，薄膜的光學(xué)特性不可能以解析解的形式來算出來，也不可能在每個(gè)波長下描述n和k值。實(shí)際應(yīng)用中，一定波長范圍內(nèi)的n和k由數(shù)學(xué)模型根據(jù)幾個(gè)可調(diào)節(jié)參數(shù)模擬得出。薄膜特性通過計(jì)算厚度實(shí)驗(yàn)值及n與k模型參數(shù)的反射光譜來確定，不斷調(diào)整這些數(shù)據(jù)，直到計(jì)算反射率和測(cè)量反射率相匹配。n和K的建模有許多數(shù)學(xué)模型描述波長的函數(shù)n和k。為某種薄膜選擇模型時(shí)，在準(zhǔn)確描述相關(guān)波長范圍n和k的情況下，變量越少越好。一般來講，不同材料（如：電介質(zhì)，半導(dǎo)體，金屬和非金屬）的光學(xué)常數(shù)隨波長有很大 ...

膜厚測(cè)量原理（四）-膜厚測(cè)量的方法可變量的個(gè)數(shù)，光譜反射法的局限光譜反射法可以測(cè)量多種類型薄膜的厚度，粗糙度和光學(xué)常數(shù)。但是，如果只有不到一個(gè)周期的反射率振蕩（如：薄膜太?。?，那么就不會(huì)產(chǎn)生足夠的信息來確定模型的可變量。這樣，對(duì)于非常薄的薄膜，可確定的薄膜特性的數(shù)量就會(huì)減少。如果試圖解決太多的變量，不可能找到唯①的解答；這種情況下待求變量的多種組合都可能使得反射率計(jì)算值與測(cè)量值匹配。取決于薄膜和測(cè)量的波長范圍，光譜反射法測(cè)量的單層薄膜的較小厚度為1納米到30納米。如果還要測(cè)量光學(xué)常數(shù)，除非使用較少變量模型，可測(cè)較小厚度增加為10納米到200納米。如果測(cè)量超過一層的薄膜的光學(xué)特性，較小厚度將進(jìn)一 ...

鍵。傳統(tǒng)階躍折射率型單模光纖在其中心具有較高的折射率，包層材料具有較低的折射率，以便通過全內(nèi)反射的機(jī)理傳輸光波電磁場(chǎng)，其導(dǎo)模的有效折射率介于芯層中心折射率和包層折射率之間。科學(xué)家們不斷地對(duì)光纖進(jìn)行探索，經(jīng)過不懈努力發(fā)現(xiàn)了光纖中新的導(dǎo)光機(jī)理，新型的空芯光纖不再局限于傳統(tǒng)的內(nèi)反射原理，其光纖的纖芯折射率可以低于包層折射率，低折射率纖芯的光纖也可以傳輸光波電磁場(chǎng)科學(xué)家們發(fā)明并提出多種新型特種光纖，如微結(jié)構(gòu)光纖，多空光纖，反諧振光纖等。這些新型的特種光纖不僅在長距離傳輸上有著良好的優(yōu)勢(shì)，并且在生物傳感、氣體傳感等應(yīng)用上有著很好的性能。圖1.光纖設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)示意圖1999年，P.St.J.Russell在《 ...

表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測(cè)量。點(diǎn)衍射干涉儀不需要標(biāo)準(zhǔn)參考件，可以用于高精度面型的檢測(cè)，是一種非常重要的高精度測(cè)量儀器。1.1測(cè)試光路測(cè)試系統(tǒng)主要由D7點(diǎn)衍射干涉儀主機(jī)，準(zhǔn)直器，5mm口徑鋁鏡，光學(xué)平臺(tái)等構(gòu)成。1.2 測(cè)試環(huán)境溫度：21℃±1℃；濕度：30%-70%1.3 絕對(duì)精度檢測(cè)（Accuracy）絕對(duì)精度的檢測(cè)采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的計(jì)算方法，WRMSD是干涉儀穩(wěn)定性和測(cè)量有效性的嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)。它定義為所有測(cè)量波前差異的均方差加上2X均方差的測(cè)量集，并定義為所有測(cè)量波前的平均值的綜合參考。測(cè)試步驟：1）測(cè)試部分從0°開始 ...

加工和裝調(diào)；折射率的變化應(yīng)能保證挑選到相應(yīng)的玻璃等，稱為變量邊界條件。變量邊界條件除應(yīng)考慮工藝條件和材料的可能性，還要考慮到程序處理的方便和不致引起收斂過程的波動(dòng)。對(duì)于各類變量可作如下的限制：曲率半徑一般不需給以限制(因?yàn)樽詣?dòng)設(shè)計(jì)中為了確保像差的良好校正，并不會(huì)導(dǎo)致半徑的極度變?。?；透鏡的厚度應(yīng)嚴(yán)格限制下限(可令d≥0.1D,D為透鏡口徑）,為了防止透鏡過厚，對(duì)上限也可適當(dāng)提出限制；透鏡的空氣間隔只需限制下限；透鏡的折射率可限制在 1.48～1.85 范圍，并將其分段，以便能與色散或阿貝數(shù)相適應(yīng)。第二類邊界條件是以結(jié)構(gòu)參數(shù)為自變量的函數(shù)的邊界條件，是對(duì)結(jié)構(gòu)參數(shù)函數(shù)的限制，包括正透鏡的邊緣厚度、 ...

;所在空間的折射率。相關(guān)文獻(xiàn)：《幾何光學(xué) 像差 光學(xué)設(shè)計(jì)》（第三版）——李曉彤 岑兆豐更多詳情請(qǐng)聯(lián)系昊量光電/歡迎直接聯(lián)系昊量光電關(guān)于昊量光電：上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學(xué)測(cè)量設(shè)備、光學(xué)元件等，涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學(xué)研究、國防、量子光學(xué)、生物顯微、物聯(lián)傳感、激光制造等；可為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等服務(wù)。您可以通過我們昊量光電的官方網(wǎng)站www.jiazhangclub.com了解更多的產(chǎn)品信息，或直接來電咨詢4006-888-532。 ...

地測(cè)量厚度、折射率及消光系數(shù)。只要將Semiconsoft 系統(tǒng)插入您電腦的USB接口，就能開始測(cè)量。整個(gè)系統(tǒng)只需要幾分鐘來設(shè)定，只需要基本的電腦知識(shí)就能測(cè)量。這種簡單的硬件系統(tǒng)和直觀的軟件為所有新用戶提供了薄膜知識(shí)。從近紅外到紫外 系統(tǒng)能在波長200納米到1700納米 范圍內(nèi)測(cè)量厚度從1納米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 系統(tǒng)可測(cè)量幾乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的軟件用戶能很快地掌握Semiconsoft軟件熟悉而又友好的界面。測(cè)量一次大約一秒。測(cè)量數(shù)據(jù)，及測(cè)量細(xì)節(jié)能夠非常容易地通過標(biāo)準(zhǔn)Windows文件存盤和輸出。另外，公開的 NET 程序非常 容易地讓其他軟件來控制 ...