剛石中的一種點缺陷。金剛石晶格中一個碳原子缺失形成空位，近鄰的位置有一個氮原子，這樣就形成了一個NV色心。反聚束效應是一種量子力學效應，它揭示了光的類粒子行為。它是由于單光子源一次只能發(fā)射一個光子而產(chǎn)生的現(xiàn)象。由于兩次光子發(fā)射之間必須完成一個激發(fā)和弛豫循環(huán)，兩次光子發(fā)射之間的最小間隔主要取決于單光子源的激發(fā)態(tài)壽命。當將發(fā)光信號分成兩束，采用兩個檢測器同時探測，每個光子只能被其中一個檢測器探測到。即在同一時刻僅有一個檢測器可以探測到光子。反聚束效應會導致兩個探測器的信號在很短的延遲時間內(nèi)呈現(xiàn)反相關（HBT實驗）?！肮庾臃淳凼鴾y試功能和常見的利用機械位移平臺的mapping方式相比，采用掃描振鏡的 ...

諸如硼雜質(zhì)等點缺陷也可以在這些條件下被誘導移動。在經(jīng)過一段時間的設備運行并隨后在700℃的氮氣環(huán)境中進行退火以收縮RISFs（如圖1a所示）[1]之后，對SiCPIN二極管進行了EL成像[1]。隨著RISFs的擴張，從器件中收集到的EL從400nm到780nm，步長2nm，曝光時間為30s。使用IMA收集的單色圖像可以將不同類別的缺陷分離開來。如圖1b顯示了RISFs的峰值發(fā)射，中心波長為424nm，圖1c-d顯示了534nm和720nm處的部分位錯。圖2中標有“1”和“2”的兩個區(qū)域的光譜響應確認，PDs由于RISFs在424nm處有類似的尖銳發(fā)射，而在530-540nm處為較寬發(fā)射。通過結(jié) ...

ED的進行的點缺陷、線缺陷和mura檢測比較類似;Demura：也就是消除mura，以使屏幕達到均勻一致，可以是亮度demura，也可以是色度demura。Color Vision的成像亮度色度計不僅可以校正Mini-LED背光，也可以對LCD/OLED/Micro-LED屏進行demura。缺陷檢測和Demura制造過程中，顯示屏難免會產(chǎn)生各種缺陷，如常見的有點缺陷、線缺陷、塊狀類缺陷(如漏光/Mura)等。除了可以用成像式光度計和軟件算法進行缺陷的檢測外，還可以使用成像式光度計來進行缺陷補償，如業(yè)內(nèi)常稱的“Demura”。Demura工序?qū)LED產(chǎn)品的良率提升是非常關鍵。針對您的需求，我 ...

的一種原子級點缺陷，由鄰近碳空位的一個氮原子替代碳原子構(gòu)成。其獨特的結(jié)構(gòu)賦予其多維度物理特性，成為量子科技領域的核心研究對象之一。圖2 NV色心能級躍遷圖（來源：維基百科）氮空位中心具有一個基態(tài)三重態(tài)（3A）、一個激發(fā)態(tài)三重態(tài)（3E）以及兩個中間態(tài)單重態(tài)（1A和1E）。3A和3E均包含m?=±1自旋態(tài)（其中兩個電子自旋平行排列，向上為m?=+1，向下為m?=-1）和m?=0自旋態(tài)（電子自旋反平行排列）。由于磁相互作用，m?=±1態(tài)的能量高于m?=0態(tài)，在沒有外界磁場時，m?=±1簡并，1A和1E各自僅包含一個m?=0的單重自旋態(tài)。見圖2。光學躍遷需遵循總自旋守恒原則，因此僅允許總自旋相同的能級 ...