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中,有效熒光發(fā)光面積的減小是通過(guò)受激發(fā)射效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一個(gè)典型的STED顯微系統(tǒng)中需要兩束照明光,其中一束為激發(fā)光,另外一束為損耗光。當(dāng)激發(fā)光的照射使得其衍射斑范圍內(nèi)的熒光分子被激發(fā),其中的 電子躍遷到激發(fā)態(tài)后,損耗光使得部分處于激發(fā)光斑外圍的電子以受激發(fā)射的方式回到基態(tài),其余位于激發(fā)光斑中心的被激發(fā)電子則不受損耗光的影響,繼續(xù)以自發(fā)熒光的方式回到基態(tài)。由于在受激發(fā)射過(guò)程中所發(fā)出的熒光和自發(fā)熒光的波長(zhǎng)及傳播方向均不同,因此真正被探測(cè)器所接受到的光子均是由位于激發(fā)光斑中心部分的熒光樣品通過(guò)自發(fā)熒光方式產(chǎn)生的。由此,有效熒光的發(fā)光面積得以減小,從而提高了系統(tǒng)的分辨率。STED顯微術(shù)能實(shí)現(xiàn)超分辨的另 ...
了樣品的有效發(fā)光面積,從而突破了衍射極限的限制。熒光分子需要在激發(fā)態(tài)進(jìn)行自發(fā)輻射發(fā)出熒光,因此激發(fā)態(tài)是亮態(tài),STED中采用熒光分子的基態(tài)作為暗態(tài)。強(qiáng)制使得熒光分子處于暗態(tài)的機(jī)制采用受激輻射。當(dāng)激發(fā)光光斑內(nèi)的熒光分子吸收了激發(fā)光處于激發(fā)態(tài)后,用另一束STED光束照射樣品,使損耗光斑范圍內(nèi)的分子以受激輻射的方式回到基態(tài),從而失去發(fā)射熒光的能力。即熒光萃滅。這個(gè)過(guò)程就叫做受激發(fā)射損耗。只有損耗光強(qiáng)為零或較低的區(qū)域內(nèi)的熒光分子能夠以自發(fā)輻射的形式回到激態(tài)發(fā)出熒光,這樣就實(shí)現(xiàn)了有效發(fā)光面積的減小。為了實(shí)現(xiàn)上述目的,損耗光聚焦后的光斑需要滿足邊緣光強(qiáng)較大,而中心趨于零的條件,一般采用的是環(huán)形的空心光斑,如 ...
度; L-發(fā)光面上的亮度; τ-光學(xué)系統(tǒng)的透射比(透過(guò)率); f-透鏡焦距; l-透鏡與發(fā)光面的距離(稱為測(cè)量距離); fm系統(tǒng)相對(duì)孔徑數(shù),fm=f/D,其中D為孔徑直徑?! ‘?dāng)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)能使f/l可以忽略不計(jì)時(shí)(在某誤差范圍內(nèi))(1-f/l)2近似等于公式(1)可以化為:公式(2)公式(2)為設(shè)計(jì)成像式亮度計(jì)的基本公式。色度測(cè)試原理:光源的色度用色品坐標(biāo)x,y表示,與光源的相對(duì)光譜功率分布有關(guān);如果一個(gè)光源的相對(duì)功率分布函數(shù)用P(λ)來(lái)表示,(λ)、(λ)、(λ)代表CIE1931標(biāo)準(zhǔn)光譜三刺激值,如下圖所示,則此光源的三刺激值可用如下公式來(lái)表示:濾光片式彩色亮度計(jì)的色度測(cè)量功能的 ...
激光二極管的發(fā)光面積大約比LED小4個(gè)數(shù)量級(jí)(0.0001mm2對(duì)比1mm2),使其能夠在更小的發(fā)散角內(nèi)提供類似的功率輸出。激光腔的橫向?qū)挾龋òl(fā)射區(qū)寬度,見(jiàn)圖4)決定了激光是單模(寬度<10μm)還是多模(寬度>50μm)。就應(yīng)用而言,單模和多模半導(dǎo)體激光器在輸出功率和角度發(fā)散之間代表著一種權(quán)衡。圖4. 法布里-珀羅(FP)半導(dǎo)體激光器示意圖。整機(jī)尺寸一般為1000μm×500μm×200μm(長(zhǎng)×寬×高)。對(duì)于單模激光器,發(fā)射區(qū)寬度小于10 μ m,對(duì)于高度為1 μ m的多模激光器,發(fā)射區(qū)寬度小于50 μm。除了高輻射強(qiáng)度和小光學(xué)擴(kuò)展量(見(jiàn)表1)之外,激光源的光輸出是相干的,而L ...
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