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中文:基態(tài)損耗顯微成像;英文:ground state depletion microscopic imaging / GSD microscopic imaging

解釋
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一種基于掃描成像的遠(yuǎn)場超分辨成像技術(shù)。通過特殊的激發(fā)光控制使激發(fā)光焦點區(qū)域大部分分子處于長壽命的三線態(tài)或暗態(tài),對處于基態(tài)的少量分子進(jìn)行成像,可以減小艾里斑的有效尺寸,實現(xiàn)超分辨成像。