中文：夏克-哈特曼檢測(cè)法；英文：Shack-Hartmann testing的原理；中文：夏克-哈特曼檢測(cè)法；英文：Shack-Hartmann testing的定義；中文：夏克-哈特曼檢測(cè)法；英文：Shack-Hartmann testing是什么。
一種反射鏡面形誤差檢測(cè)技術(shù)。具體原理為在被測(cè)反射鏡焦點(diǎn)位置放置點(diǎn)光源，發(fā)出的理想球面波經(jīng)待測(cè)鏡反射后在焦點(diǎn)附近被整形光學(xué)系統(tǒng)發(fā)散成近似平面波，該平面波被微透鏡陣列聚焦在CCD像面形成一組光斑，每個(gè)光斑位置表征了與其對(duì)應(yīng)的被檢鏡相應(yīng)子孔徑處波面的橫向像差。通過求解每個(gè)焦斑位置與理想位置的偏移量，可以得到相應(yīng)位置處的波面斜率，進(jìn)而通過積分運(yùn)算求得反射鏡面形誤差。該方法是20世紀(jì)70 年代夏克（Shack）在傳統(tǒng)哈特曼（Hartmann） 檢驗(yàn)技術(shù)基礎(chǔ)上提出的，故命名為夏克-哈特曼（Shack-Hartmann