波前畸變，使物鏡得到接近衍射極限的目標(biāo)像。四波剪切干涉技術(shù)原理：剪切干涉技術(shù)基本原理是將待檢測(cè)的激光波前分成兩束，其中的一束相對(duì)于另一束橫向產(chǎn)生一些錯(cuò)位，兩束錯(cuò)位的光波各自保持完整的待測(cè)波前信息，相互疊合后，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，CCD/CMOS相機(jī)會(huì)接收干涉圖樣，進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算分析，從而利用傅立葉變換的相關(guān)計(jì)算，分析出待測(cè)波前的相位分布，以及強(qiáng)度分布等?；诟缮鏃l紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測(cè)波前的偏離范圍較傳統(tǒng)的哈特曼傳感器具有更大的優(yōu)越性。波前傳感器的典型應(yīng)用光在傳輸?shù)倪^(guò)程中會(huì)經(jīng)過(guò)不同的介質(zhì)，不同的介質(zhì)由于其構(gòu)成物質(zhì)的分布不均勻，從而導(dǎo)致光的波前產(chǎn)生各種各樣的變化，自適應(yīng)系統(tǒng)便 ...

z的速率掃描物鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)。這不足以監(jiān)測(cè)在一毫秒的時(shí)間尺度上發(fā)生的神經(jīng)活動(dòng)。對(duì)于光遺傳學(xué)研究，需要能夠在3D空間中動(dòng)態(tài)和任意形成多個(gè)焦點(diǎn)的顯微鏡以監(jiān)視和操縱發(fā)射模式，并且顯微鏡必須能夠進(jìn)行3D成像以捕獲神經(jīng)元電路的響應(yīng)。在掃描雙光子/三光子顯微鏡的激發(fā)路徑中添加液晶空間光調(diào)制器（SLM），可以將激發(fā)源分成幾百個(gè)獨(dú)立的焦點(diǎn)，并以高達(dá)300 Hz的頻率重新配置焦點(diǎn)的3D位置。因此，使用SLM可以傳遞光線，同時(shí)可激發(fā)多個(gè)3D位點(diǎn)的神經(jīng)元，然后將目標(biāo)細(xì)胞定位在一個(gè)體積內(nèi)以監(jiān)測(cè)神經(jīng)回路對(duì)刺激的反應(yīng)。這使得在大量細(xì)胞群中監(jiān)測(cè)和操縱神經(jīng)元活動(dòng)的過(guò)程可同步進(jìn)行。 Yuste首次證明了SLM在光遺傳學(xué)中的應(yīng)用潛力， ...

信息不僅包含物鏡焦平面上的樣品信息，同時(shí)包含焦平面外的樣品信息。由于受到焦平面外的信息的干擾，常規(guī)熒光顯微鏡無(wú)法獲得層析圖像。三維結(jié)構(gòu)光照明顯微鏡提高分辨率、獲得層析圖像的原理，就是利用特定結(jié)構(gòu)的照明光來(lái)獲得樣品的高頻信息，采用特定算法在橫向和縱向上擴(kuò)展樣品頻域信息的同時(shí)彌補(bǔ)凹陷帶來(lái)的影響。飽和結(jié)構(gòu)照明顯微鏡(SSIM)的原理法國(guó)OXXIUS多波長(zhǎng)合束激光器應(yīng)用在Nikon顯微鏡受激發(fā)射損耗顯微（STED）在STED顯微術(shù)中，有效熒光發(fā)光面積的減小是通過(guò)受激發(fā)射效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一個(gè)典型的STED顯微系統(tǒng)中需要兩束照明光，其中一束為激發(fā)光，另外一束為損耗光。當(dāng)激發(fā)光的照射使得其衍射斑范圍內(nèi)的熒光分 ...

紋。系統(tǒng)所用物鏡為奧林巴斯NA1.49、100×浸油TIFR物鏡。線性結(jié)構(gòu)光模式時(shí)，采集三個(gè)方向角上三個(gè)相位的熒光圖像（共９張）進(jìn)行圖像重構(gòu)；非線性結(jié)構(gòu)光模式則采集６個(gè)方向角上５個(gè)相位共30幀熒光圖像。當(dāng)然，為了保證結(jié)構(gòu)光能發(fā)生高對(duì)比度的穩(wěn)定干涉，必須調(diào)整結(jié)構(gòu)光偏振態(tài)。如果需要實(shí)時(shí)調(diào)整，這里我們建議采用1/4波片和1/2波片配合LCC實(shí)現(xiàn)。北京大學(xué)在應(yīng)用偏振光結(jié)構(gòu)光超分辨顯微技術(shù)（PSIM)研究蛋白在亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)中的定位和取向時(shí)應(yīng)用Forthdd 公司SXGA—3DM空間光調(diào)制器成功提取熒光分子的偶極子方位信息與超分辨結(jié)構(gòu)信息。同時(shí)，研究人員進(jìn)行了大量的生物學(xué)實(shí)驗(yàn)來(lái)證明其廣泛的適用性，如λ-DN ...

.42），由物鏡OB聚焦到焦平面上，在距離十字交叉口下方3mm處的檢測(cè)通道中心形成一個(gè)直徑約20μm的近圓形檢測(cè)區(qū)域，以激發(fā)流經(jīng)檢測(cè)區(qū)域的細(xì)胞產(chǎn)生熒光和散射光。檢測(cè)區(qū)域的熒光被同一物鏡收集后形成平行光束透過(guò)全反射鏡M2反射和多邊緣分色分光器（透射率>93%）透過(guò)后，到達(dá)分光鏡 DM1（透射率>95%），因此物鏡收集到的熒光約90% x 93%≈86%進(jìn)入熒光檢測(cè)通道。被多邊緣分色分光器透射的熒中，綠色熒光被二色分光鏡DM1反射至熒光檢測(cè)通道1（APD1），透過(guò)二色分光鏡DM1的黃色熒光被DM2反射至熒光檢測(cè)通道2（APD2），透過(guò)DM2紅色熒光則被二色分光鏡DM3反射至熒光檢測(cè)通道 ...

2λ/NA,物鏡不變的情況下,短波長(zhǎng)激發(fā)光光斑質(zhì)量高,空間分辨率高.05 532nm波長(zhǎng)激發(fā)的樣品由于532nm激發(fā)是可見(jiàn)光光中應(yīng)用最為廣泛的,特此列出此波長(zhǎng)激發(fā)的樣品.①一般多用于二維材料的測(cè)試,像目前研究比較火熱的石墨烯,過(guò)渡金屬二硫化物,黑磷之類(lèi)的層狀二維材料,判定層數(shù),是否摻雜等等.②金屬氧化物：其中有建筑類(lèi)材料例如氧化鐵氧化銅等無(wú)機(jī)顏料,還有發(fā)光類(lèi)材料如氧化鎵等.③半導(dǎo)體材料：常用于分析此類(lèi)材料的缺陷,結(jié)晶度,如單晶硅,多晶硅,二氧化硅,硫化鉛等.最后,我想說(shuō)根據(jù)自己的樣品查閱相關(guān)文獻(xiàn)來(lái)確定激發(fā)波長(zhǎng)是最為準(zhǔn)確的方法. 您可以通過(guò)我們的官方網(wǎng)站了解更多的產(chǎn)品信息,或直接來(lái)電咨詢(xún)4006 ...

過(guò)分光鏡到達(dá)物鏡，然后聚焦在樣品之上，根據(jù)光路可逆，激發(fā)的熒光或者產(chǎn)生的拉曼信號(hào)經(jīng)過(guò)原來(lái)的入射光路反向回到分光鏡，并進(jìn)入第二個(gè)針孔即探測(cè)針孔，在探測(cè)針孔位置聚焦之后到達(dá)探測(cè)器，探測(cè)器將收集到的信號(hào)進(jìn)行收集并處理最后傳送到計(jì)算機(jī)上顯示。在這個(gè)光路之中，只有焦點(diǎn)上的光才能穿過(guò)探測(cè)針孔，焦點(diǎn)之外區(qū)域的光線在檢測(cè)針孔平面位置是離焦的，因而不能穿過(guò)檢測(cè)針孔，換句話說(shuō)此時(shí)探測(cè)器上接收到的信號(hào)全部來(lái)自于焦點(diǎn)處。如果采用振鏡控制激光光源的偏轉(zhuǎn)，比如我司共聚焦拉曼成像系統(tǒng)中采用的振鏡掃描系統(tǒng)，光路圖如下（這里采用了無(wú)限遠(yuǎn)物鏡，所以與上圖光路不太一樣）。振鏡控制激光光束在樣品焦平面上不同位置聚焦（x-y平面），焦 ...

發(fā)光是由顯微物鏡照射到樣品上，而不是大家常見(jiàn)的在樣品下方進(jìn)行透射照明的方式，當(dāng)然也存在一些使用透射熒光的觀察方式，但是一般來(lái)說(shuō)熒光的發(fā)射光是在樣品360度方向都有發(fā)射光，而且發(fā)射光的強(qiáng)度只有激發(fā)光強(qiáng)度的千分之一到百萬(wàn)分之一的量級(jí)，如果跟激發(fā)光同方向檢測(cè)的話，會(huì)很大程度上干擾檢測(cè)，成像的信噪比很差，甚至噪聲干擾信號(hào)會(huì)強(qiáng)于有效信號(hào)。圖中就是落射熒光顯微鏡的示意圖在熒光激發(fā)方面，我們可以使用汞燈，LED燈等這類(lèi)常見(jiàn)的照明光源來(lái)進(jìn)行熒光激發(fā)，但此類(lèi)照明方式有著明顯的缺點(diǎn)，在使用第一濾光片濾出單色光之后，其光強(qiáng)度非常的低，使得熒光信號(hào)強(qiáng)度也大幅降低，并且此類(lèi)光源強(qiáng)度隨著使用時(shí)間會(huì)有非常明顯的功率下降，此 ...

束器；OL:物鏡；IRT:紅外線溫度計(jì)；M:鏡子；S:光譜儀；LS:激光源；NF:陷波濾波器；VS:電壓源。插圖顯示了樣品隨溫度變化的介電常數(shù)。如上圖為劉洪亮老師課題組搭建的系統(tǒng)光路實(shí)驗(yàn)圖。來(lái)自鹵鎢燈(THL)的一束白光被分束器(BS1)反射，然后通過(guò)另一個(gè)分束器(BS2)和物鏡(OL)照射到KTN樣品。透射光由分光計(jì)收集，以測(cè)量樣品的透光率光譜。同時(shí)，樣品的照明區(qū)域由OL成像到一個(gè)CCD相機(jī)上。對(duì)于拉曼測(cè)量，532納米的激光束被陷波濾波器和BS2重定向到OL，后者將激光束聚焦到樣品中。拉曼信號(hào)由同一個(gè)OL收集，并在從BS2反射并通過(guò)NF后發(fā)送到另一個(gè)光譜儀(S2，Nanobase XperR ...

個(gè)特定的成像物鏡組將不同位置和大小的物體成像到光纖束的輸入端面。同時(shí)為了觀察圖像，也必須有一個(gè)后置光學(xué)系統(tǒng)，比如說(shuō)目鏡或光電圖像轉(zhuǎn)換器件。在設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)當(dāng)使成像物鏡的像方數(shù)值孔徑與光纖束的物方數(shù)值孔徑匹配，后置光學(xué)系統(tǒng)的物方數(shù)值孔徑也要和傳像光纖的像方數(shù)值孔徑匹配。當(dāng)滿(mǎn)足這一要求的時(shí)候，由于軸上物點(diǎn)的成像光束關(guān)于光軸對(duì)稱(chēng)，所以能夠全部進(jìn)入傳像光纖，而軸外物點(diǎn)的一部分光線或者一部分下光線的傾斜角將會(huì)超過(guò)傳像光纖的數(shù)值孔徑角，導(dǎo)致被攔光，使軸外物點(diǎn)的像比軸上物點(diǎn)的像要暗，這是不能允許的。所以，為了軸上物點(diǎn)和軸外物點(diǎn)的全部成像光束都能進(jìn)入傳像光纖束傳播，應(yīng)當(dāng)把成像物鏡設(shè)計(jì)成像方遠(yuǎn)心光路。同理，后置光學(xué)系 ...